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  • Bruker 橢偏儀 FilmTek 2000M TSV
    Bruker 橢偏儀 FilmTek 2000M TSV FilmTek™ 2000M TSV計量系統(tǒng)為先進的半導體封裝應用提供了速度和精度組合。該系統(tǒng)為各種封裝工藝和相關結構的高通量測量提供了測量性能和精度，包括表征抗蝕劑厚度、硅通孔（TSV）、銅柱、凸塊和再分布層（RDL）。
    更新日期：2024-12-02訪問量：2901廠商性質：代理商
    現(xiàn)在聯(lián)系
  • Bruker橢偏儀 FilmTek 6000 PAR-SE
    Bruker橢偏儀 FilmTek 6000 PAR-SE FilmTek™ 6000標準桿數(shù)-SE先進的多模薄膜計量系統(tǒng)在1x nm設計節(jié)點和更高的位置為廣泛的薄膜層提供生產(chǎn)驗證的薄膜厚度、折射率和應力測量監(jiān)測。該系統(tǒng)能夠在新一代集成電路的生產(chǎn)過程中實現(xiàn)更嚴格的過程控制，提高器件產(chǎn)量，并支持下一代節(jié)點技術的開發(fā)。
    更新日期：2024-12-02訪問量：3028廠商性質：代理商
    現(xiàn)在聯(lián)系
  • Bruker 全自動原子力顯微鏡 InSight CAP
    Bruker 全自動原子力顯微鏡 InSight CAP ——緊湊型高性能剖面儀和AFM
    更新日期：2024-12-02訪問量：2913廠商性質：代理商
    現(xiàn)在聯(lián)系
  • Bruker 全自動原子力顯微鏡 InSight AFP
    bruker 全自動原子力顯微鏡 InSight AFP ——第五代AFP具有業(yè)界高的分辨率、快的成型速度和快速的3D模具映射
    更新日期：2024-12-02訪問量：3936廠商性質：代理商
    現(xiàn)在聯(lián)系
  • Bruker布魯克 XRD JV-QCVelox X射線衍射儀
    Bruker布魯克 JV-QCVelox X射線衍射儀 XRD$n$n——用于 LED 和外延層晶圓分析的生產(chǎn)專用高分辨率 X 射線衍射系統(tǒng)
    更新日期：2025-01-15訪問量：7967廠商性質：代理商
    現(xiàn)在聯(lián)系
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